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二階導數檢驗

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二階導數檢驗是一種透過使用函式的一階和二階導數來確定函式的極大值、極小值和拐點的方法。

二階導數檢驗是一個大學級別的概念,在微積分 I 課程中首次接觸到。它是大學預修課程微積分 AB 的主題,並列在加州州立微積分標準中。

先決條件

導數: 導數是函式相對於其引數之一的無窮小變化率。
拐點: 拐點是曲線上曲率發生變化的點。

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